Fast Explicit Diffusion: Schneller Algorithmus zur Mustererkennung
Saarbrücker Forscher haben einen neuen Algorithmus zur Musterkennung entwickelt, mit dem Kratzer und Rauschen aus Bildern entfernen werden können. Der als Fast Explicit Diffusion (FED) bezeichnete Algorithmus steht als Open-Source-Bibliothek unter der GPL zum Download bereit. (Grafik-Software)
Stand: 09:41 09.11.2010	Quelle: Golem.de - Software
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Kategorie: Software

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